ٹرانسفارمر لوڈ لوس ٹیسٹ اور درجہ حرارت کی اصلاح: ایک مکمل تکنیکی رہنما

لوڈ لوس ٹیسٹ - جسے شارٹ-سرکٹ ٹیسٹ بھی کہا جاتا ہے - پاور ٹرانسفارمر کے سمیٹتے ہوئے تانبے کے نقصان اور گمراہ ہونے کی پیمائش کرتا ہے۔ نہیں-لوڈ ٹیسٹ کے برعکس، لوڈ کا نقصان سختی سے درجہ حرارت-پر منحصر ہے۔ نام پلیٹ کی قدروں یا معیارات سے نتائج کا موازنہ کرنے کے لیے، آپ کو ناپے گئے نقصان کو حوالہ درجہ حرارت سے درست کرنا چاہیے۔

یہ گائیڈ بتاتا ہے کہ ٹیسٹ کیسے انجام دیا جائے، کون سے پیرامیٹرز درج کیے جائیں، اور درجہ حرارت کی اصلاح کیسے کام کرتی ہے۔

لوڈ نقصان ٹیسٹ کیا ہے؟

بوجھ کے نقصان کے ٹیسٹ کے دوران، ایک وائنڈنگ شارٹ-سرکیوٹ ہوتی ہے، اور دوسرے وائنڈنگ پر اس وقت تک کم وولٹیج لاگو کیا جاتا ہے جب تک کہ کرنٹ فلو نہ ہو جائے۔ اس حالت کے تحت ماپا جانے والی طاقت لوڈ نقصان - بنیادی طور پر وائنڈنگز میں I²R نقصان کے علاوہ ساختی حصوں میں آوارہ نقصان کے برابر ہے۔

کلیدی پیرامیٹرز:

پیمائش شدہ لوڈ نقصان (P)ماپا کرنٹ اور درجہ حرارت پر - فعال طاقت

مختصر-سرکٹ امپیڈینس وولٹیج (Zk)- ریٹیڈ کرنٹ چلانے کے لیے درکار وولٹیج

پاور فیکٹر (cos φ)- عام طور پر کوئی -لوڈ ٹیسٹ سے زیادہ

وائرنگ کے طریقے

بالکل نہ-لوڈ ٹیسٹ کی طرح، لوڈ ٹیسٹ سپورٹ کرتا ہے:

تین-واٹ میٹر کا طریقہ- تین-فیز فور-وائر سسٹمز کے لیے

دو-واٹ میٹر کا طریقہ- تین کے لیے-فیز تھری-وائر سسٹم (سب سے عام)

واحد-واٹ میٹر کا طریقہسنگل-فیز ٹرانسفارمرز کے لیے -

لوڈ ٹیسٹ کے لیے، غیر-ٹیسٹ شدہ وائنڈنگ مختصر-بھاری، کم-مزاحمت والے تانبے کی سلاخوں کے ساتھ گردش میں ہونی چاہیے۔ شارٹ-سرکٹ کنکشن ریزسٹنس اور کانٹیکٹ ریزسٹنس ٹرانسفارمر وائنڈنگ ریزسٹنس کے مقابلے میں نہ ہونے کے برابر ہونا چاہیے۔

ٹیسٹ سیٹ اپ پیرامیٹرز

MOEORW-WBT43 پر لوڈ ٹیسٹ ترتیب دیتے وقت، یہ پیرامیٹرز درج کریں:

درجہ حرارت کی اصلاح کیوں ضروری ہے۔

سمیٹنے کی مزاحمت درجہ حرارت کے ساتھ بدلتی ہے۔ تانبے کی مزاحمت تقریباً 0.4% فی ڈگری بڑھ جاتی ہے۔ چونکہ بوجھ کے نقصان پر I²R نقصان کا غلبہ ہوتا ہے، اس لیے کمرے کے درجہ حرارت (20–30 ڈگری) پر ماپا جانے والا نقصان 75 ڈگری (خشک-قسم کے لیے) یا 120 ڈگری (تیل کے لیے-ڈوبنے کے لیے) پر بیان کردہ نیم پلیٹ کی قدر سے کم ہوگا۔

معیارات کے مطابق بوجھ کے نقصان کو حوالہ درجہ حرارت پر رپورٹ کیا جانا ضروری ہے۔ اگر آپ درست نہیں کرتے ہیں، تو آپ کی جانچ کی رپورٹ نام کی تختی کے مقابلے میں "کم نقصان" دکھائے گی، جو کہ ایک غلطی کی طرح دکھائی دیتی ہے۔

آلہ لوڈ کے نقصان کو کیسے درست کرتا ہے۔

MOEORW-WBT43 دو حسابات کو انجام دینے کے لیے داخل شدہ سمیٹنے والی مزاحمت اور درجہ حرارت کا استعمال کرتا ہے:

1. درجہ حرارت-درست لوڈ نقصان

آلہ ماپا نقصان کو اس میں الگ کرتا ہے:

I²R نقصان- سمیٹنے والی مزاحمت کے متناسب (درجہ حرارت-منحصر)

آوارہ نقصان- نے درجہ حرارت سے آزاد فرض کیا (یا معیار کے لحاظ سے مختلف درجہ حرارت کے گتانک کے ساتھ)

پھر یہ I²R جزو کو ٹیسٹ درجہ حرارت سے حوالہ درجہ حرارت تک درست کرتا ہے۔

2. درست کیا گیا مختصر-سرکٹ امپیڈینس (Zk)

مختصر-سرکٹ کی رکاوٹ کو بھی حوالہ درجہ حرارت پر درست کیا جاتا ہے:

Zk=√[Zkt² + (Pkt / (10 × Sr))² + (Kt² −1)]

کہاں:

Zkt ٹیسٹ درجہ حرارت پر ماپا جانے والا مائبادا ہے۔

Pkt ٹیسٹ درجہ حرارت پر ماپا بوجھ نقصان ہے۔

Sr ٹرانسفارمر کی درجہ بندی کی گنجائش ہے۔

Kt درجہ حرارت کی اصلاح کا عنصر ہے۔

نتیجہ حوالہ درجہ حرارت پر مختصر-سرکٹ کی رکاوٹ ہے، جس کا نام پلیٹ ویلیو سے مراد ہے۔

ٹیسٹ کا طریقہ کار

تانبے کی بھاری سلاخوں کے ساتھ نان-ٹیسٹ شدہ وائنڈنگ کو مختصر-کریں۔

ٹرانسفارمر ٹینک اور آلے کو گراؤنڈ کریں۔

اوپر درج تمام پیرامیٹرز درج کریں، بشمول سمیٹنے کی مزاحمت اور درجہ حرارت۔

آہستہ آہستہ ریگولیٹر آؤٹ پٹ کرنٹ میں اضافہ کریں۔

جب اوسط کرنٹ سیٹ ٹیسٹ کرنٹ تک پہنچ جاتا ہے، تو آلہ خود بخود ڈیٹا کو بزر الرٹ کے ساتھ لاک کر دیتا ہے۔

درست نقصان اور درست رکاوٹ کو ریکارڈ کریں۔

عام نقصانات

1. لوڈ ٹیسٹ سے پہلے سمیٹنے والی مزاحمت کی پیمائش نہیں کرنا

درجہ حرارت کو درست کرنے کے لیے آپ کو سمیٹنے والی مزاحمتی اقدار کی ضرورت ہے۔ پہلے ڈی سی وائنڈنگ ریزسٹنس کی پیمائش کریں (الگ ڈی سی ریزسٹنس ٹیسٹر کے ساتھ)، پھر ان اقدار کو لوڈ ٹیسٹ سیٹ اپ میں داخل کریں۔

2. غلط ٹیسٹ کا درجہ حرارت

ٹیسٹ کا درجہ حرارت سمیٹنے کا اصل درجہ حرارت ہونا چاہئے، محیطی ہوا کا درجہ حرارت نہیں۔ اگر ٹرانسفارمر ٹیسٹ بے میں بیٹھا ہوا ہے، تو سمیٹنے والے درجہ حرارت کو مستحکم ہونے اور محیطی درجہ حرارت سے ملنے کے لیے کافی وقت دیں۔

3. ناکافی مختصر-سرکٹ کنکشن

اگر شارٹ-سرکٹ بارز میں نمایاں مزاحمت ہوتی ہے، تو وہ پیمائش میں اضافی I²R نقصان کا اضافہ کرتے ہیں، جس سے ناپے گئے بوجھ کا نقصان اصل سے زیادہ ظاہر ہوتا ہے۔ موٹی تانبے کی سلاخوں کا استعمال کریں اور تمام رابطے کی سطحوں کو صاف کریں.

4. مبہم ہائی-وولٹیج اور کم-وولٹیج کی شرح شدہ قدریں

لوڈ ٹیسٹ عام طور پر ہائی-وولٹیج سائیڈ پر کیا جاتا ہے (HV وائنڈنگ کے ذریعے کرنٹ کی درجہ بندی کی جاتی ہے)۔ یقینی بنائیں کہ آپ نے HV ریٹیڈ وولٹیج اور کرنٹ صحیح طریقے سے درج کیا ہے۔

متعلقہ پروڈکٹ

دیMOEORW-WBT43 ٹرانسفارمر نقصان ٹیسٹرخود بخود درجہ حرارت-درست لوڈ نقصان اور مختصر-سرکٹ امپیڈینس کیلکولیشن کرتا ہے۔ یہ وائرنگ کے تینوں طریقوں اور بڑے پاور ٹرانسفارمرز کے لیے بیرونی PT/CT کو سپورٹ کرتا ہے۔ ڈیٹا شیٹ ڈاؤن لوڈ کریں یا ایپلی کیشن سپورٹ کے لیے ہماری انجینئرنگ ٹیم سے رابطہ کریں۔